河南合金直讀光譜儀廠家

儀器工作原理及用途：全譜直讀光譜儀由激發(fā)模塊、光路系統(tǒng)、CCD檢測系統(tǒng)、分析軟件四部分組成。儀器工作時(shí)，在氬氣環(huán)境的保護(hù)下，激發(fā)光源產(chǎn)生的高壓放電將能量傳遞給金屬材料，使金屬材料由固態(tài)變?yōu)闅鈶B(tài)。金屬蒸氣的原子外層電子由基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)，處于激發(fā)態(tài)的原子是不穩(wěn)定的，當(dāng)外層電子由激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時(shí)，能量以光的形式放出。不同元素發(fā)射出不同波長的光，通過光路系統(tǒng)及 CCD檢測器采集全譜曲線，由分析軟件解譜，根據(jù)光的波長確認(rèn)某一元素的存在，根據(jù)該波長的強(qiáng)度確定這一元素的含量多少 全譜直讀光譜儀主要用于測量金屬材料中合金元素成份及雜質(zhì)元素含量，廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械加工等行業(yè)的爐前檢測、來料檢驗(yàn)、質(zhì)量控制及出廠檢驗(yàn)等。

河南合金直讀光譜儀廠家

?  光學(xué)結(jié)構(gòu)：PS-SDB410 采用Paschen-Runge結(jié)構(gòu)，羅蘭圓裝置，以降低儀器隨環(huán)境溫度、真空度改變而引發(fā)的應(yīng)力釋放的影響，提高儀器精準(zhǔn)度及穩(wěn)定性。圖4. PS-SDB410 光路系統(tǒng)及CCD檢測系統(tǒng)

?  光學(xué)焦距：光柵半徑400mm，較長的焦距為儀器提供了優(yōu)秀的分辨率。

?  譜線范圍：可探測波長范圍（120～800）nm，可分析包括 N、Li、 Na、K 等元素及常規(guī)元素，滿足各個(gè)基體材質(zhì)對(duì)測試元素的需求。

?  入射狹縫：狹縫寬度12μm，精細(xì)的入射狹縫有效地過濾掉不必要的雜光，避免探測器接收光強(qiáng)過于飽和，降低元素間光強(qiáng)干擾值。圖5. PS-SDB410 入射狹縫示意圖

?  光源透鏡：采用石英玻璃材質(zhì)MgF2渡層，保證C、S、P、N等紫外波長透過光強(qiáng)強(qiáng)，使紫外短波測量結(jié)果更為可靠。

?  探測器：采用CCD探測器，可以安裝至多16塊CCD，采用上下錯(cuò)位布局，不同波長之間沒有間隙，使光譜波長成為一整體，實(shí)現(xiàn)全譜覆蓋，滿足客戶對(duì)多元素測試需求。

?  凹面光柵：2400gr/mm，色散率倒數(shù)：0.47nm/mm（1級(jí)），凹面光柵可以減少吸收現(xiàn)象，只存在光柵面一次反射的光損失，且無色差，提升真空紫外光譜效果。

?  分析時(shí)間：依樣品種類而不同，一般一次分析用時(shí)少于40秒。

?  激發(fā)光源：數(shù)字化激發(fā)光源，多種激發(fā)條件可調(diào)，滿足不同材質(zhì)的分析需求。

?  測光方式：V-F法

?  控制系統(tǒng)：采用FPGA技術(shù)控制儀器工作狀態(tài)。

?  尺寸大?。?/span>890*560*515 mm

?  激發(fā)電極：采用高純度鎢電極系統(tǒng)，高純度鎢電高強(qiáng)度、耐腐蝕、耐高溫氧化優(yōu)點(diǎn)，降低儀器使用過程中儀器參數(shù)對(duì)測試數(shù)據(jù)的影響。

?  儀器重量：約60kg；

?  消耗功率：1.0kW；

?  真空要求：5～12 Pa；

?  氬氣模塊：分析流量4 L/min；待機(jī)流量0.1 L/min；

優(yōu)秀的節(jié)氬技術(shù)：保證客戶日常使用氬氣需求量的降低，減少企業(yè)使用成本。

智能、優(yōu)良的氣路監(jiān)控：激發(fā)前，監(jiān)控系統(tǒng)確保樣品夾、樣品和火花臺(tái)形成回路，確?；鸹ㄊ颐芊狻⒉宦?。確保樣品表面平整度達(dá)到要求。激發(fā)后，脈沖式氬氣吹掃，提升粉塵去除效果，確保儀器的短期和長期穩(wěn)定性。

?  操作系統(tǒng)：采用品牌計(jì)算機(jī)質(zhì)量更可靠，安操作軟件系統(tǒng)OwindLab，計(jì)算算法結(jié)合優(yōu)異的硬件系統(tǒng)大幅度提升儀器的性能。